愛德萬測試發表最新IC記憶體測試機

整合5G產品開發所需的預燒與測試

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 發表最新多功能H5620ES工程測試系統,針對現今實驗室環境DDR4、次世代DDR5和低功率LPDDR裝置進行高速預燒及測試,為H5600記憶體測試機家族再添生力軍。由於精簡配件數量、縮短預燒及測試之間所需的時間,最新H5620ES大幅降低5G應用先進記憶體裝置的測量成本,新款測試機跟今年3月發表的姊妹系統H5620 一樣具備優異的生產力,能針對DDR4和DDR5進行平行測試,並容納頻率100-MHz、資料傳輸率200Mbps的記憶體IC。

最新H5620ES系統提升生產前的實驗室環境測試效率

這套工程系統已針對產品開發工作進行使用優化,其精巧的設計能節省空間讓實驗室環境更機動,再加上頂部開放的機體設計很容易執行取放作業,不用先移開裝置界面板 (DIB),H5620ES跟H5620生產單元都採用FutureSuite™作業系統,因此測試波形相同,它也支援預先測試 (pre-testing routines),譬如在轉移到H5620測試機以前,先在H5620ES系統進行檢查 ,藉以縮短生產週期時間。

愛德萬測試記憶體ATE事業群副總Takeo Miura表示:「快速成長的5G市場對最新資料儲存IC的需求量大增,我們新發表的H5620ES系統能協助業者,大幅精簡產品開發與品質提升所需要的成本。」,愛德萬表示H5620ES工程系統預計於今年第二季開始出貨。

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