START™讓晶片快速完成記憶體測試與修復設計

IC 製程的快速演進讓晶片功能越來越多元,相對地記憶體的需求也就日益增加。為了協助 IC 設計業者在複雜的晶片設計也可以快速完成記憶體測試與修復的設計,芯測科技(iSTART-TEK,股票代號:6786)獨創 START™工具,內建方便實用的工具如UDM(自定義記憶體模型)、Algorithm Selection(演 算法自動化選單)、Gating Cell Insertion(門控單元插入)等,讓 IC設計工程師透過這些工具在最短的開發時間完成記憶體測試與修復的電路設計。

客戶透過UDM功能自行加入記憶體模型到 START™工具後,工具即可按照客戶 建立的模型協助產生記憶體測試電路。UDM升級圖形化界面及參數化設定的操 作方式,貼心節省使用者研讀複雜操作手冊的時間,只要按照圖形介面的操作 即可加入新的記憶體模型到工具中。

此外,Algorithm Selection是演算法自動化選單功能,透過產品類別及 IC 製程的分類,START™ 即可列出所有相對的測試演算法供客戶選擇,讓使用者不需要研讀大 量的演算法技術文章,即可以找到適合產品的演算法來做記憶體測試。門控單元是 IC設計中常用的節能設計方法,如果電路設計要入數十至數百個門控單元將會是一個耗時又費力的工作。START™工具的 Gating Cell Insertion透過參數化的設定方式,使用者用簡易的方式即可在測試電路前加入門控單元。

「芯測科技記憶體測試工具 START™,簡化、易操作的介面已經大幅縮短了 DFT 設計流程,而現在又加上記憶體自定義、演算法自動化選單的圖形化界面及門控單元自動插入的設計,讓我們在記憶體測試電路設計上又掌握更有效率的利器。」 芯測科技的使用客戶表示:「不安於現狀、不斷進化淬鍊工具,是我們持續與芯測合作的關鍵,也相信下一世代的 START™會提供更簡便、更有效率的設計工具。」

隨著半導體先進製程演進的快速腳步,加上現今各種電子產品功能日趨複雜,系統晶片設計不僅變得更加困難,同時對於記憶體的需求更是日益增加。因而在追求如何提升產品效能降低功耗等課題外,如何加入適當的設計驗證電路來維持晶片的品質,提升可靠度以及控制成本,更是決勝的關鍵點。芯測科技透過創新的可程式化暨管線式架構記憶體測試技術與特有架構的記憶體修復技術,加上客製化以及即時的技術支援服務,提供客戶完整的記憶體測試與修復解決方案,來滿足不同製程及應用的需求。

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