芯測科技提供便捷版記憶體測試方案EZ-BIST

中美貿易戰持續延燒,引發後續波及全球的貿易戰爭,當中更是突顯智慧財產權合法的重要性。有鑑於此,深耕於開發記憶體測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek,簡稱iSTART)為了協助客戶對智慧財產權領域規避嚴重失信的風險,日前推出最新便捷版記憶體內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」,適用於MCU相關的系統晶片開發商。

採用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的記憶體測試開發工具,可協助客戶快速的開發產品,避免忽略記憶體測試的細節而導致產品良率下降,而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音辨識、馬達控制、家電控制、電子標籤等MCU相關的系統晶片,此外,芯測科技(iSTART)秉持著幫助開發者以更簡單、更快速、更低成本的途徑實現SOC設計的初衷,提供最佳化的記憶體測試電路,從產品設計源頭大幅提升測試良率,提高產業競爭力,先進的功能與友善的介面能大幅縮減測試成本與產品上市的時間,滿足製造商的成本和產品可靠性的需求。

芯測科技公司基於多項記憶體測試與修復相關專利,致力於創新各類的記憶體測試與修復技術研發,以便對全球快速成長的系統晶片架構提供更可靠的記憶體測試與修復服務。現今各種電子產品功能日趨複雜,系統晶片設計需要更多的記憶體,而系統晶片設計廠商也正面臨著產品對成本與節能等各方面的需求。芯測科技所創新的可程式化暨管線式架構記憶體測試技術與記憶體修復技術,提供給客戶建構出特有的最佳化記憶體測試與修復方式。芯測科技的核心技術在於特有的可程式化暨管線式架構記憶體測試技術與特有架構的記憶體修復技術,並且透過各項專利加以保護,能夠和客戶緊密合作與提供技術支援,以便協助客戶完成高品質設計,增加產品競爭力。

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