1. 行動版
  2. 生醫健康網
  3. 機械展
  4. 台灣權王

愛德萬測試推出T5503HS2高速記憶體晶片測試系統

2018/04/09 | 科技走廊 | 傅秉祥/新竹報導

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)正式推出T5503HS2測試系統,專為現役最高速記憶體裝置,以及新世代超高速DRAM產品,提供業界最富成效的測試解決方案,在全球記憶體需求處於「超級循環」高速成長之際,其具備的靈活性有助擴展T5503系列產品的測試能力。 

此記憶體超級循環拜行動電子裝置與伺服器終端市場成長之賜,根據市調機構IHS Markit資料,自2009年至今Mobile DRAM於整體DRAM產業的市佔率已成長5倍以上。IHS Markit更預測,至2021年,來自行動電子、資料中心、汽車、博奕遊戲與顯示卡等各種資料處理應用所需要的DRAM總容量將達到1,200億個Gbit記憶體之譜,為了滿足此蓬勃成長的龐大需求,晶片製造商利用先進SDRAM技術,一舉開發DDR5與LP-DDR5記憶體,其資料傳輸率高達6.4Gbps。 

愛德萬表示T5503HS2測試系統旨在兼顧新世代記憶體與既有裝置,提供測試解決方案,可測試時脈精確度為±45皮秒(picoseconds),資料傳輸速度高達8Gbps的記憶體。此多功能測試系統共有16,256通道,用來測試新世代LP-DDR5與DDR5 SDRAM裝置時,可達到半導體業界最高平行測試數量,以及最佳成本效益,同時用戶仍可繼續測試現有的DDR4與LP-DDR4與高頻寬記憶體。此測試機台若選擇配備4.5-GHz高速時脈訊號產生器,便可擴展測試未來8Gbps以上資料傳輸率的記憶體晶片。 

T5503HS2內建功能強大,而且是唯一用於支援新世代LP-DDR5、DDR5等高速記憶體裝置量產的高速測試平台。舉例來說,此測試機台可自動辨識與調整DQS-DQ差動時脈差異訊號,以確保即時追蹤取得更多時脈餘裕。此外,T5503HS2穩固的全新演算圖樣產生器(algorithmic pattern generator;ALPG),可對先進記憶體裝置進行快速、高品質的功能評估。T5503HS2亦具備全新可編程電源供應器,反應速度較先前版本快4倍,大幅減少壓降的衝擊。目前採用T5503測試機的用戶可選擇升級至全新T5503HS2測試系統,使生產設備在符合經濟效益之下,無縫接軌新世代記憶體裝置。 

愛德萬測試執行副總裁Masuhiro Yamada表示:「愛德萬T5503HS2測試系統針對新世代記憶體晶片全速測試,展現業界最佳效能與精準度。此測試系統無與倫比的可擴充性與生產力,使其成為測試LP-DDR5、DDR5裝置的最迅速、最準確、最符合成本效益的系統。」,T5503測試系統的首批訂單預定於今年第二季開始出貨。