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愛德萬測試年度VOICE開發者大會樹立新標竿

2017/08/22 | 科技走廊 | 記者傅秉祥/新竹報導

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 甫於5月落幕的第11屆VOICE 2017開發者大會,於今年已邁入第二個十年,本屆共計113場技術發表會、2場夥伴博覽會、29座科技互動站,更為半導體測試產業人士創造眾多交流機會,今年的大會於美、中兩地舉行,分別是5月16至17日的加州棕櫚泉場次,和5月26日的上海場次,也是大會第二度於上海舉辦。兩場大會共計超過450人共襄盛舉,其中半數以上為愛德萬測試的客戶和合作夥伴。

據了解今年的大會在美國棕櫚泉與上海場次分別舉行88場和25場技術發表會,並各有四成五和六成的論文由愛德萬測試的客戶撰文或並列共同作者。總體而言,於VOICE 2017大會發表技術論文的企業共有22間、來自全球12個國家。所有論文皆須經過技術委員會審查,在委員組成中,愛德萬測試的客戶共計41位,來自19間企業。VOICE的成功須歸功於愛德萬測試及客戶推派代表組成之指導委員會的統籌規劃,以及贊助商的支持。今年贊助企業規模達25家,創下歷史新高,其中10家為新的贊助商。SEMI、Global Semiconductor Alliance (GSA)VLSIresearchIC InsightsIHS等相關夥伴亦皆於2017年再次力挺VOICE大會。3db7ce77-b71f-4433-a78c-e2fe2d38ba8e.jpg 

最佳論文獎每年的VOICE大會都由與會者票選出最佳技術論文,今年大會響應節能減碳減少紙張使用,所有投票作業與意見回饋皆改於行動App上操作。美國場次的獲獎者為來自愛德萬測試的Edwin Lowery、Shiyang Deng與Aether Lee,發表論文「SmarTest 8技術中的儀器同步:從RF到MX再到DC和數位」(Instrument Synchronization in SmarTest 8: RF to MX to DC to Digital);中國場次則由來自恩智浦 (NXP) 的Zhaoyang Wang與來自愛德萬測試的共同作者Lydia Jiang、Kai Kang、Qiannan Ren和Peng Wang獲此殊榮,發表論文「以V93000平台測試汽車安全氣囊系統」(Testing Automotive Airbag System Devices on the V93000),今年大會精彩亮點可逕覽VOICE 2017 資訊圖表(見圖,愛德萬提供),愛德萬表示VOICE 2018將於美國和台灣登場;更多詳細資訊可逕覽愛德萬活動官網:https://voice.advantest.com