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2017年DesignCon大會 是德科技展示嶄新400G/PAM-4測試解決方案

2017/01/18 | 科技走廊 | 黃志偉

 是德科技(Keysight Technologies Inc.)日前宣佈將於2月1日至2日在美國加州聖克拉拉會議中心舉辦的DesignCon 2017大會中展出其高速數位解決方案。是德科技技術專家和應用工程師將展示最先進的設計和測試解決方案。這些解決方案專為克服當今最棘手的高速數位量測挑戰而設計。是德科技為2017年DesignCon的主要贊助機構。

 此外,是德科技產業專家將主持8場免費的40分鐘教育講座,探討的主題包括USB TYPE-C、信號和電源完整性、400G/PAM-4、PCIe4、DDR4/LPDDR4、資料分析,以及IBIS -AMI模擬基本原理。凡於是德科技攤位填表登記者,是德科技將於會後免費提供簡報檔和影片檔。

是德科技將展示以下的解決方案:

 1. USB 3.1/Type-C Tx/Rx/PD測試:是德科技將展示最新的USB Type-C發射器和接收器測試解決方案,可正確地評估並驗證USB設計。另外還將展出使用配備TDR選項的網路分析儀的纜線和連接器測試解決方案。

 2. PCIe Rx/Tx測試:是德科技將展示完整的工具和技術,工程師可用來測試PCI Express 4.0裝置,可全面滿足發射器和接收器的實體層Gen4要求。

 3.信號完整性和電源完整性:是德科技將展示一致的信號和電源完整性分析解決方案,包括可快速提供洞察力的全新設計和測試技術,以及新的通道模擬技術。

 是德科技的實體層測試系統(PLTS)2017是新的軟體版本,具有PAM-4眼圖、通道運作邊限(COM),和適用於製造自動化應用的SCPI命令介面。

是德科技也將展示其新的數位互連測試系統參考解決方案,可用來啟動多埠互連產品的信號完整性特性分析。

 4.400G/PAM-4:是德科技將展示新的量測技術,包括新的M8040A高度整合型64 Gbaud高效能BERT,可用來測試電氣和光學PAM-4發射器和接收器。

 5.資料分析:是德科技將展示新的資料分析軟體功能,以滿足資料管理需求,並提供和高效率且直覺的量測分析。

 6. DDR4/DDR5記憶體測試和驗證:是德科技將展示如何針對DDR/LPDDR匯流排上的訊務和系統的電源完整性,輕鬆擷取交互關聯的量測結果,並同時展示創新的新的探量和除錯技術,讓工程師能更快地深入洞察其高速記憶體系統。

 7.靈活的多階信號產生:利用其M8195A和M8196AAWG,是德科技將展示如何產生多位準信號,如HDMI、MIPI和PAM-16 802.3bz。

 是德科技服務與支援專家將在攤位中,現場解答經過認證的校驗、技術更新服務、培訓和諮詢服務等相關問題。更多展會資訊,請上網查詢:Keysight DesignCon 2017。