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愛德萬以完整物聯網測試方案協助客戶勝出市場

2017/08/30 | 科技走廊 | 記者傅秉祥/台北報導

圖說:愛德萬測試台灣公司董事長兼總經理吳慶桓如往年一樣於SEMICON展會前帶領高階主管舉辦記者會分享成果,出席記者會的主管高層包括業務部協理蘇宏偉(左一起)、記憶體事業處副總經理劉建志、董事長暨總經理吳慶桓、ATE業務銷售事業處資深副總經理吳萬錕、機電整合事業處 / 新產品事業處副總經理蘇勇鴻。(圖,傅秉祥攝)

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近年來隨物聯網趨勢崛起,半導體自動測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest) 亦針對物聯網領域中多變複雜的技術特性,持續推出整合性更高的量測解決方案,以滿足低階至高階、晶片至系統層級,及研發端至產線的各種量測需求,愛德萬台灣總經理吳慶桓指出,目前除了研發完善的V93000平台及相關衍生模組產品 (Wave Scale RF卡及相對應的Wave Scale MX卡..) 外,T2000系統及EVA100測量平台也已進行功能擴充以滿足物聯網測試需求,其中針對現階段物聯網晶片多整合包括微控制與應用處理器,以執行通訊、電源管理和感測等許多功能,除此推出T2000 AiR系統,能為高整合度晶片提供高效率類比/混合訊號IC量測,與往年一樣未來將舉辦多場技術研討會提供客戶最新測試解決方案及應用分享。吳慶桓指出愛德萬測試深耕台灣市場近30年,在半導體產業擁有廣大客戶群與使用者,定期舉辦各種研討會提供最新測試解決方案及分享應用案例伴隨客戶持續成長。今年五月甫於美國加州及中國上海舉辦的2017 VOICE Conference,共有181篇技術研究報告投稿,吸引超過450位的來賓參與,雙雙打破過去10年來的記錄,明(2018)年將再度回到台灣舉辦,預期將再掀起一波新技術發表的高峰及各方的高度關注。 

愛德萬測試在VOICE之後將有一連串重要活動陸續於下半年度展開,包括:8/30在台北舉行記者會、9/13-9/14 在2017台灣半導體展中設有Hospitality Suite 接待客戶(提供餐點及產品解說),除此集團旗下的銷售子公司Cloud Testing Service, Inc.,今年也將出席2017 Semicon Taiwan,設置攤位在 #1627,將提供兼具IT與雲端技術的測試解決方案。吳慶桓強調身為量測設備領導廠商,愛德萬測試將持續擴充各種平台功能,並藉由研討會與技術論壇提供最具效率及成本效益測試的解決方案,且10月下旬將於新竹舉辦Memory Technical Forum記憶體測試技術論壇,11月的SoC Technical Seminar系統單晶片測試研討會緊接登場,期許能藉由一連串的發表活動協助客戶打造面對市場激烈競爭的即戰力。